Flat Panel Detectors ၏ပုံရိပ်အရည်အသွေးအကဲဖြတ်ခြင်းအတွက်အဓိကညွှန်းကိန်းများနှင့်လွှမ်းမိုးမှုအချက်များအားခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်း

Flat Panel Detectors သည်ဒစ်ဂျစ်တယ်ရေဒီယို (ဒေါက်တာ) တွင်အရေးကြီးသောအခန်းကဏ် play မှပါ 0 င်သည်။ Flat Panel Detector ပုံရိပ်များအရည်အသွေးကိုပုံမှန်အားဖြင့် modulator transfer function (MTF) နှင့် Quantum ကူးပြောင်းခြင်းထိရောက်မှု (DQE) ဖြင့်တိုင်းတာသည်။ အောက်ဖော်ပြပါအချက်များသည်ဤညွှန်းကိန်းနှစ်ခုကိုအသေးစိတ်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းနှင့် DQE ကိုသက်ရောက်စေသောအချက်များဖြစ်သည်။

1, modulator လွှဲပြောင်းငွေ function (MTF)

Modulation Transfer Function (MTF) သည်စနစ်တစ်ခုကိုစိတ်ကူးယဉ်သောအရာဝတ်ထုတစ်ခု၏ Spatial Freatency Range မျိုးပွားနိုင်သည့်စနစ်၏စွမ်းရည်ဖြစ်သည်။ ၎င်းသည်ပုံအသေးစိတ်ကိုအသေးစိတ်ဖော်ပြရန်ပုံရိပ်စနစ်၏စွမ်းရည်ကိုရောင်ပြန်ဟပ်သည်။ စံပြပုံရိပ်စနစ်သည်ပုံရိပ်တွင်အသေးစိတ်အချက်အလက်များအနက် 100% လိုအပ်သော်လည်းအချက်အမျိုးမျိုးကြောင့် MTF တန်ဖိုးသည်အမြဲတမ်း 1 ဖြစ်သည်။ MTF တန်ဖိုးသည်အမြဲထက်နည်းသည်။ ဒီဂျစ်တယ် X-Ray ပုံရိပ်တွေအတွက်သူတို့ရဲ့မွေးရာပါပုံရိပ်အရည်အသွေးကိုအကဲဖြတ်ဖို့အတွက်,

2, ကွမ်တမ်ကူးပြောင်းခြင်းထိရောက်မှု (DQE)

ကွမ်တမ်ကူးပြောင်းခြင်းထိရောက်မှု (DQE) သည်ပုံရိပ်စနစ်အချက်ပြများနှင့်ဆူညံသံများထုတ်လွှင့်ခြင်း၏ထုတ်လွှင့်ခြင်း၏ဖော်ပြချက်သည်ရာခိုင်နှုန်းအနေဖြင့်ထုတ်ဖော်ပြောဆိုခြင်းမှထုတ်ဖော်ပြောဆိုခြင်းမှထုတ်လွှင့်ခြင်းမှထုတ်လွှင့်ခြင်း၏ထုတ်လွှင့်မှုစွမ်းရည်တစ်ခုဖြစ်သည်။ ၎င်းသည် sensitivity, ဆူညံသံ, ဓာတ်မှန်ရိုက်ခြင်းနှင့်ပြားချပ်ချပ် panel detector ၏သိပ်သည်းဆ resolution ကိုရောင်ပြန်ဟပ်သည်။ DQE တန်ဖိုးပိုမိုမြင့်မားလေလေနှင့်ကွဲပြားခြားနားမှုများကိုတစ်ပြိုင်နက်တည်းကွဲပြားမှုများခွဲခြားရန်ပိုမိုအားကောင်းလာလေလေဖြစ်သည်။

DQE ကိုထိခိုက်သောအချက်များ

scintillation ပစ္စည်းများကိုဖုံးအုပ်ခြင်း - Amorphous Silicon Flat Panel Detectors တွင် scintillation ပစ္စည်းများကိုဖုံးအုပ်ထားသည့်အချက်သည် DQE ကိုထိခိုက်သောအရေးကြီးသောအချက်များထဲမှတစ်ခုဖြစ်သည်။ cesium iItide (CSI) နှင့် GADOLINIAIthern oussululfide (gdolinium oussulfide (gd ₂ o ₂ s) နှင့် gd o₂ o ss) Cesium IOVIDE သည် X-RIRS များကို GADOLINIAIthern Oxyulfide ထက်မြင်နိုင်သောအလင်းသို့ပြောင်းလဲရန်ပိုမိုအားကောင်းနိုင်စွမ်းရှိသော်လည်းပိုမိုမြင့်မားသောကုန်ကျစရိတ်ဖြင့်ဖြစ်သည်။ Cesium Iodide processing columnar ဖွဲ့စည်းပုံတစ်ခုသို့ပြောင်းလဲခြင်းသည် X-Rays များကိုဖမ်းယူနိုင်ပြီးအရပ်ရပ်သို့ကွဲပြားသောအလင်းကိုလျှော့ချနိုင်သည့်စွမ်းရည်ကိုပိုမိုမြှင့်တင်ပေးနိုင်သည်။ Gadolinium Oxyulfide နှင့်ဖုံးထားသော detector သည်မြန်ဆန်သောပုံရိပ်, တည်ငြိမ်သောစွမ်းဆောင်ရည်နှင့်ကုန်ကျစရိတ်သက်သာသည်။

Transistors - Scintillators မှထုတ်လုပ်သောမြင်နိုင်သည့်အလင်းသည်လျှပ်စစ်အချက်ပြမှုများသို့ပြောင်းလဲခြင်းသည် DQE ကိုသက်ရောက်မှုရှိသည်။ Cesium iIthern Syide (သို့မဟုတ် Gadolinium Olefide) ၏ဖွဲ့စည်းပုံနှင့်အတူပြားချပ်ချပ် panel detectors တွင် TPLS Transistor (TFT) တွင် TFTS ကို Scintillator cocking ရိယာကဲ့သို့ကြီးမားသောအရာအဖြစ်ထုတ်လုပ်နိုင်ပြီးအကြားမမြင့်မားသော DQE သည်အလွန်မြင့်မားသော DQE ကိုဖြစ်ပေါ်စေသည်။ Amorphous Selenium Flat Panel Detectors တွင် X-Rays များကိုလျှပ်စစ်အချက်ပြမှုများသို့ပြောင်းလဲခြင်းသည် Amorphousel ဆယ်လီနီယမ်အလွှာမှထုတ်ပေးသောအီလက်ထရွန်တွင်းအပေါက်များပေါ်တွင်မူတည်သည်။

ထို့အပြင်ပြားချပ်ချပ် panel detector အမျိုးအစားတစ်ခုတည်းအတွက်၎င်း၏ DQE သည်ကွဲပြားခြားနားသော Spatial Resolutions တွင်ကွဲပြားသည်။ အလွန်အမင်း DQ သည်မြင့်မားသော်လည်း DQE သည် Spatial Resolution တွင်မဆိုမြင့်မားသည်ဟုမဆိုလိုပါ။ DQE အတွက်တွက်ချက်မှုပုံစံမှာ - DQE = S ²²× MTF ² / (NPS × x × X × X × x × x ×) သည် MTF သည် MTFIntion Transfer Entour functionosuref ဖြစ်သည်။ NPS သည် System Soush Power Spectrum ဖြစ်ပြီး,

　3, အာရံဆီလီကွန်နှင့်အာခေါင်ဖနီယမ်ပြားချပ်ချပ်ပြားရှာဖွေတွေ့ရှိမှုနှိုင်းယှဉ်ခြင်း

နိုင်ငံတကာအဖွဲ့အစည်းများ၏တိုင်းတာခြင်းရလဒ်များအရဟီလီယစ်ဆီလီကွန် Flat Panel Detectors နှင့်နှိုင်းယှဉ်လျှင် Amorphous Selenium Flat Panel Detectors တွင် MTF တန်ဖိုးများရှိသည်။ Spatial Resolution တိုးလာသည်နှင့်အမျှအာခေါင်စ်စ်ဆီလီကွန်ပြားချပ်ချပ်ပြားရှာဖွေတွေ့ရှိသည့် MTF သည်လျင်မြန်စွာကျဆင်းသွားသည်။ ၎င်းသည် Amorphus Selenium flash detectors ၏ပုံရိပ်ကိုမမြင်နိုင်သော X-Ray Photons ကိုလျှပ်စစ်အချက်ပြများသို့တိုက်ရိုက်ပြောင်းရွှေ့မည့် amorphous selenium flash detectors ၏ပုံရိပ်နိယာမနှင့်နီးကပ်စွာဆက်စပ်နေသည်။ Amorphous Selenium Flat Panel Detectors များသည်မြင်နိုင်သောအလင်းကိုမထုတ်လုပ်နိုင်,

အချုပ်အားဖြင့်ဆိုရလျှင် Flat Panel Detectors ၏ပုံရိပ်သည်အချက်အချာကျသောအချက်များကြောင့်ဖြစ်သည်။ MTF နှင့် DQE သည် MTF နှင့် DQE သည်အရေးကြီးသောတိုင်းတာခြင်းညွှန်းကိန်းနှစ်ခုဖြစ်သည်။ ဤညွှန်ကိန်းများကိုနားလည်သဘောပေါက်ခြင်းနှင့်မာစတာကိုသက်ရောက်စေသောအချက်များကကျွန်ုပ်တို့အား Flat Panel Detectors ကိုပိုမိုရွေးချယ်ပြီး အသုံးပြု. ပုံရိပ်အရည်အသွေးနှင့်ရောဂါရှာဖွေရေးတိကျမှန်ကန်မှုကိုတိုးတက်အောင်လုပ်ပေးနိုင်သည်။